記者許敏溶/台北報導
在5G高速傳輸時代及製程不斷微縮,雜訊對電子訊號高速傳輸時影響越大,陽明交大團隊開發出一個內建於晶片的相位雜訊量測電路,且可進行自我偵錯功能作品,解決電子訊號高速傳輸時產生雜訊等問題,在今(30日)天奪下今年旺宏金矽獎設計組評審團鑽石大賞與最佳創意獎,以及23萬元獎金。
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今年邁入第22屆「旺宏金矽獎—半導體設計與應用大賽」,為全國規模最大、歷史最悠久、獎金最高的半導體領域學生競賽,今年共有38所大專院校、275支隊伍報名,共計近千位師生參與,今天下午舉行頒獎典禮。
比賽分為設計組與應用組,其中陽明交通大學電子所鍾奕璇及李承龍,作品「一個無參考時脈且具有背景自我校正技術之相位雜訊量測電路」,拿下設計組評審團鑽石大賞,以及最佳創意獎,該產品因應5G高速傳輸的時代,加上製程不斷微縮,系統操作速率與資料吞吐量要求越來越高,開發一個內建於晶片的相位雜訊量測電路以進行自我偵錯的功能,解決電子訊號高速傳輸時產生的雜訊等問題。
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李承龍指出,當傳輸速度越快,就越容易受到雜訊影響,就像開車速度越快,方向盤動一點就會影響方向很多,而對高速訊號來說,雜訊是非常重要,而當公司在做一個產品時,也要先確保做出來產品跟模擬的特性是一樣,在將產品交給客戶前,公司要先檢驗,過去檢驗都是對晶片抽樣,再由儀器檢測雜訊狀況,但使用高端儀器檢測比較昂貴,實際量測也耗時、耗成本。
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李承龍進一步說明,他們作品是一小塊電路,並將其鑲嵌在原本商品內,當產品電路需要進行測試雜訊,只要開啟就可以偵測到產品訊號的雜訊,更特別的是,該作品省去額外參考源,且具備自我校正能力,還可以抗製程與溫度干擾,將可應用5G或未來6G的高速傳輸上。