▲成功大學電機工程學系李昆忠教授，榮獲國際電機電子工程師學會IEEE Fellow（會士）。（圖／成大提供）
記者林悅／南市報導
致力於積體電路測試技術之研究，在測試資料壓縮及系統晶片測試設計架構方面成效卓著的成功大學電機工程學系李昆忠教授，日前由國際電機電子工程師學會 （IEEE） 的計算機專業學會推薦，在眾多競爭者中脫穎而出，榮獲為IEEE Fellow（會士）。
成大指出，李昆忠教授榮獲為IEEE Fellow，肯定他對積體電路設計及測試技術之貢獻，李昆忠教授對台灣及全世界學產界之貢獻闕偉，今被選為IEEE Fellow，乃實至名歸。
在學術界及產業界都產生巨大影響及貢獻的電機工程學系李昆忠教授，他所發明之廣播式掃描測試技術，現今已成為高複雜度積體電路最常採用之測試資料壓縮方法，目前使用此方法試或其衍生技術之積體電路晶片已超過數十億顆，對業界測試成本之降低影響至為深廣。
李昆忠教授，迄今已發表210餘篇期刋及會議論文，這在積體電路測試領域甚為不易。其論文多在高品質之IEEE期刋及國際頂尖會議發表，例如在2016年全世界最高水準之國際測試會議即有三篇論文發表，不僅為國內之最，且在全世界亦數一數二。
李昆忠教授之學術研究成果豐碩，且獲得國內外之高度肯定，他曾帶領成功大學研究團隊兩度獲得國科會(現科技部)國家型三年計畫之最佳績優計畫奬，近幾年亦持續在多項國內及國際會議中獲得殊榮，如在2015 積體電路測試技術研討會、2015及2016全國超大型積體電路設計暨電腦輔助設計(VLSI/CAD)研討會、2016年IEEE 高階測試研討會等會議，均獲得最佳論文奬，其指導學生也在2015年IEEE 亞洲測試會議亦榮獲最佳博士論文奬。
李昆忠教授目前是IEEE 亞洲測試會議的指導委員會主席，IEEE測試技術理事會亞洲及太平洋區主席，IEEE國際設計、自動化及測試會議執行委員會委員以及IEEE 高階測試研討會指導委員會委員。
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